Surface photovoltage spectroscopy characterization of a GaAIAs/InGaAs/ GaAs pseudomorphic high electron mobility transistor structure

Y. T. Cheng, Y. S. Huang, D. Y. Lin, K. K. Tiong, Fred H. Pollak, K. R. Evans

研究成果: Article › 同行評審

5 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋 深入研究「Surface photovoltage spectroscopy characterization of a GaAIAs/InGaAs/ GaAs pseudomorphic high electron mobility transistor structure」主題。共同形成了獨特的指紋。

Physics & Astronomy